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芯片原子钟16天输出频率数据
发布时间：2024-01-01
该数据为芯片原子钟16天输出频率数据，于2021年3月7日在中国计量科学研究院采集完成。采集方法为：将芯片原子钟输出的频率信号和原子时标基准输出的频率信号同时接入皮秒测试仪，皮秒测试仪测量16天得到芯片原子钟输出频率与原子时频基准输出频率的相对频率偏差。该数据用于计算芯片原子钟秒稳定度、1000秒稳定度、天稳定度和天漂移率。所使用的采集设备主要包括原子时频基准，时间间隔计数器，皮秒测试仪和相位噪声测试系统等。
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♦数据简介♦
英文名称
Frequency Data of the Chip Scale Atomic Clock Measured for 16 Days
关键字
原子钟 , 频率偏差 , 天漂移率
数据量
31.2841 MB
1 文件
共享途径
共享范围
DOI
CSTR
VO标识符
ivo://China-VO/data/ntsc/time_frequency_ACM
♦联系数据作者♦
作者
芯片原子钟技术（2017YFB0503200）
邮件
yuantian(at)apm.ac.cn
♦联系数据发布者
♦
邮件
support(at)china-vo.org
电话
+86-10-64807973
机构
国家天文科学数据中心
♦数据标签♦
观测波段
其他波段
观测装置和计划
芯片原子钟
子学科
其他
数据类型
数字化数据
用户对象
科研